Re: Красное словцо


Автор сообщения: Покровский
Дата и время сообщения: 19 March 2005 at 21:40:47:

В ответ на сообщение: Re: Еще бы не настаивать

Что можно было высматривать электронным микроскопом.
Приповерхностные слои материалов отличаются от внутрених тем, что в них энергия связи атомов с матрицей приблизительно в 2 раза ниже, чем у внутренних слоев. И примесной атом, который не в состоянии вклиниться в решетку в матрице материала, - с легкостью делает это на поверхности или вблизи ее.

К поверхности диффундируют все дефекты, возникшие в структуре материала.

Внутрь материала с поверхности диффундируют атомы, адсорбированные из атмосферы.

*****************************
Так что я вправе ожидать от электронной мироскопии и/или ренгеноской дифракции поверхностных слоев?

1) Более широкого разброса межплоскостных растояний кристаллической решетки, тем больших, чем больше времени прошло с момента выхода этих слоев на поверхность.
2) Появления множественных рефлексов, нехарактерных для внутренних областей. Причем в тем больших количествах, чем больше времени граница материала с воздухом существовала.

Я не работал с электронной микроскопией. Я работал с рентгеновской дифракцией. Но эти темы родственны. Т.е. и рентгеновская дифракция и электронная микроскопия описываются единой теорией, что отражено литературой, в которой два этих метода исследование объединяются в единое целое.

В рентгеноской дифракции появлению новых образований соответствует при малых концентрациях - уширение основного рефлекса - пика на ренгенограмме. При существенных искажениях новообразование дает свою дополнительную решетку, проявляющуюся в отдельном пике. Ее же фиксирует и отклонение электронных волн в электронном микроскопе. - Точно так же, как и отражение рентгеновских квантов - длины волн - сопоставимы.

Опять-таки, я имел дело с рентгенограммами образцов, обработанных ионными пучками, нейтронными потоками, лазерным импульсом, плазменным ударом( ударная волна, на фронте которой плотная плазма, - т.н. z-пинч). Глубина проникновения воздействия была от единиц микрон до сотни-полутора микрон.
Я наблюдал деградацию изменений во времени. В том числе для медленно протекающих процессов с высокой энергией активации(отжиг при 650 градусах Цельсия). Я реально снимал ренгеновские дифрактограммы шлифа сплава, рентгенограммы этих же шлифов после электрохимического травления, ренгенограммы этх же травленых шлифов через серьезный промежуток времени после травления и после ускоряющей процессы деградации выдержки при повышенных температурах. Изменения есть. Медленные. Как раз на сотни и тысячи лет.

Я УТВЕРЖДАЮ: для вновь образованной поверхности твердого материала существуют изменения кристаллической решетки вблизи поверхности, которые имеют настолько большие времена релаксации за счет диффузии дефектов из материала и примесей из атмосферы, что они могут быть датирующими маркерами. Квалифицированный ученый, занятый электронной микроскопией, не мог не обратить внимание на разницу уширений каких-то рефлексов или на остутствие/присутсвие других рефлексов. Как бы отрицательно я ни относился к западной науке узких профессионалов, но этого просто не могло быть.

Разумеется, все, с чем я сталкивался, относилось к вопросам упрочнения материалов для задач атомной энергетики, формирования износостойких покрытий и пр., а потому аспект, относящийся к хронологии, - не более, чем результат осмысления опыта, относящегося к существенно более ограниченным временам. Но иначе-то наука и не делается!


1976. Академик РАН Фоменко настаивает - gorm 17:45 17.03.05 (193)